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LHF08CTE
V CC =5V±0.5V, 5V±0.25V, T A =-40°C to +85°C
30
V CC =5V±0.25V
LH28F008SCH-
L85 (5)
Versions (4)
V CC =5V±0.5V
LH28F008SCH-
L90 (6)
Sym.
Parameter
Notes
Min.
Max.
Min.
Max.
Unit
t AVAV
t AVQV
Read Cycle Time
Address to Output Delay
85
85
90
90
ns
ns
t ELQV
t PHQV
t GLQV
t ELQX
t EHQZ
t GLQX
t GHQZ
t OH
CE# to Output Delay
RP# High to Output Delay
OE# to Output Delay
CE# to Output in Low Z
CE# High to Output in High Z
OE# to Output in Low Z
OE# High to Output in High Z
Output Hold from Address, CE# or OE#
Change, Whichever Occurs First
2
2
3
3
3
3
3
0
0
0
85
400
40
55
10
0
0
0
90
400
45
55
10
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
NOTES:
1. See AC Input/Output Reference Waveform for maximum allowable input slew rate.
2. OE# may be delayed up to t ELQV -t GLQV after the falling edge of CE# without impact on t ELQV .
3. Sampled, not 100% tested.
4. See Ordering Information for device speeds (valid operational combinations).
5. See Transient Input/Output Reference Waveform and Transient Equivalent Testing Load Circuit (High Speed
Configuration) for testing characteristics.
6. See Transient Input/Output Reference Waveform and Transient Equivalent Testing Load Circuit (Standard
Configuration) for testing characteristics.
Rev. 1.3
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